上海华岭集成电路技术有限责任公司
企业简介
      上海华岭集成电路技术有限责任公司是专门从事集成电路测试软件开发、芯片验证测试分析、芯片测试和探针卡制造以及相关配套服务的专业测试公司。公司有一批十多年从事集成电路测试技术研究开发、生产的技术和管理人
上海华岭集成电路技术有限责任公司的商标信息
序号 注册号 商标 商标名 申请时间 商品服务列表 内容
1 7380884 华岭科技 SINOIC 2009-05-08 打磨;定做材料装配(代他人);焊接;激光切割;印刷;空气净化;水净化;半导体加工;能源生产;书籍装订 查看详情
2 7380883 华岭科技 SINOIC 2009-05-08 半导体;电池;电镀设备;电脑软件(录制好的);电子防盗装置;计算机;量具;探测器;网络通讯设备;信号灯 查看详情
3 7380885 华岭科技 SINOIC 2009-05-08 测量;化学分析;无形资产评估 查看详情
上海华岭集成电路技术有限责任公司的专利信息
序号 公布号 发明名称 公布日期 摘要
1 CN201392350Y 一种抗干扰异步修调晶圆测试用探针卡 2010.01.27 本实用新型提供一种抗干扰异步修调晶圆测试用探针卡,用于对晶圆上的芯片进行测试,其中探针卡上具有分开排
2 CN101908524A 抗氧化修整熔丝的方法 2010.12.08 本发明的抗氧化修整熔丝的方法包括以下步骤:测量熔丝探针的阻抗;判断熔丝探针的阻抗是否大于上限值,如果
3 CN101907641A 一种探针测试线路及其设计方法 2010.12.08 本发明提出一种探针测试线路及其设计方法,所述方法包括:熔丝探针焊盘通过插件和熔丝熔断电路相连;测试外
4 CN101908524B 抗氧化修整熔丝的方法 2012.08.08 本发明的抗氧化修整熔丝的方法包括以下步骤:测量熔丝探针的阻抗;判断熔丝探针的阻抗是否大于上限值,如果
5 CN101937835B 熔丝类晶圆修调参数的方法 2011.12.21 本发明的熔丝类晶圆修调参数的方法包括以下步骤:初始化变量β和i,创建临时数据文件;i=i+1;判断i
6 CN101510520B 一种抗干扰异步修调晶圆测试方法 2011.05.11 本发明提供一种抗干扰异步修调晶圆测试方法,采用探针卡对晶圆上的芯片进行测试和修整,所述探针卡上具有测
7 CN101963943A 寻找FPGA配置文件与CLB块配置资源的映射方法 2011.02.02 一种FPGA配置文件与CLB块配置资源的映射方法,包括如下步骤:(1)通过不同配置的位流数据比较获得
8 CN101937835A 熔丝类晶圆修调参数的方法 2011.01.05 本发明的熔丝类晶圆修调参数的方法包括以下步骤:初始化变量β和i,创建临时数据文件;i=i+1;判断i
9 CN101937021A 探针接触电阻在线测量方法 2011.01.05 本发明提出一种探针接触电阻在线测量方法,包括以下步骤:探针卡连接被测芯片和测试机,探针卡上的测量探针
10 CN101793941A FPGA配置文件的生成方法 2010.08.04 本发明公开了一种FPGA配置文件的生成方法,包括如下步骤:(1)用软件工具建立新的设计文件;(2)手
11 CN101788646A FPGA配置器件的ATE测试方法 2010.07.28 本发明公开了一种FPGA配置器件的ATE测试方法,包括如下步骤:(1)依次在VCCint端和VCCO
12 CN101510520A 一种抗干扰异步修调晶圆测试方法 2009.08.19 本发明提供一种抗干扰异步修调晶圆测试方法,采用探针卡对晶圆上的芯片进行测试和修整,所述探针卡上具有测
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